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高低溫真空探針臺KT-Z160T-RL，真空高低溫探針臺系統(tǒng)，使用國際上*溫度控制系統(tǒng)和傳感器，溫度范圍為77.15K至673.15K（-196攝氏度到400攝氏度），溫度穩(wěn)定性可達(dá)0.1K。

公司致力于各類探針臺（包括手動探針臺、真空探針臺）、顯微鏡成像、光電一體化的技術(shù)研發(fā)，擁有國內(nèi)專業(yè)的技術(shù)研發(fā)團(tuán)隊，在探針臺電學(xué)量測方面擁有近十年的經(jīng)驗(yàn)團(tuán)隊，力爭打造業(yè)內(nèi)專業(yè)探針臺電學(xué)量測服務(wù)公司。簡易型探針臺 科探為用戶提供了高性價比配置的真空高低溫探針臺，高真空探針臺冷熱型 鄭州科探該系統(tǒng)配置了溫度控制系統(tǒng)，為用戶提供精準(zhǔn)、穩(wěn)定、高效的溫度控制，節(jié)約用戶的設(shè)備預(yù)算。

微型高溫探針臺KT-Z400MR4T，0-400℃溫控，主要用于介電、壓電、鐵電、熱釋電、光電等材料的電學(xué)性能表征和測量。

小型真空探針臺 太陽能電池測試夾具，可預(yù)留接口以備安裝電子閥及流量計之用，充入其它氣體使用，溫度范圍為77.15K至673.15K（-196攝氏度到400攝氏度）

常溫半導(dǎo)體測試 氣敏測試 大氣探針臺是一種用于半導(dǎo)體器件電性能測試的重要設(shè)備，通常由精密的機(jī)械結(jié)構(gòu)、高性能的探針針頭和電性能測試儀器組成。探針臺可以對半導(dǎo)體芯片、集成電路和其他微電子器件進(jìn)行直接的電性能測試，從而為研究和生產(chǎn)提供有價值的信息。探針臺主要用于晶圓加工之后、封裝工藝之前的CP測試環(huán)節(jié)，負(fù)責(zé)晶圓的輸送與定位，確保從晶圓表面向精密儀器輸送更穩(wěn)定的信號，實(shí)現(xiàn)更加精確的數(shù)據(jù)測試測量。